Thế giới

Mỹ kết án tù nhà khoa học Trung Quốc vì đánh cắp công nghệ

(ĐTTCO) - Theo South China Morning Post, ông Hongjin Tan, 36 tuổi, nhà khoa học Trung Quốc cư trú bất hợp pháp tại Mỹ, đã bị tuyên án 2 năm tù giam vì tội đánh cắp công nghệ pin thế hệ mới từ một công ty năng lượng của Mỹ.

Hongjin Tan đã bị kết án hai năm tù vì ăn cắp bí mật thương mại trị giá 1 tỷ USD. Ảnh: SOUTH CHINA MORNING POST

Hongjin Tan đã bị kết án hai năm tù vì ăn cắp bí mật thương mại trị giá 1 tỷ USD. Ảnh: SOUTH CHINA MORNING POST

Ông Hongjin Tan bị bắt giữ vào tháng 12-2018 và đã nhận tội đánh cắp các bí mật thương mại hồi tháng 11 năm ngoái. Theo Bộ Tư pháp Mỹ, giá trị thị trường của công nghệ pin thế hệ mới mà Tan đánh cắp lên tới hơn 1 tỷ USD.

Mặc dù Bộ Tư pháp Mỹ không tiết lộ thông tin về doanh nghiệp bị đánh cắp bí mật nhưng truyền thông nước này cho biết đối tượng này từng là nhà khoa học làm việc trong nhóm nghiên cứu và phát triển công nghệ đã bị giải thể của công ty năng lượng đa quốc gia Phillips 66 ở bang Oklahoma.

HOÀNG THANH

Các tin, bài viết khác